Tektronix OFC 2017最新光學測試創新技術

Tektronix展示 100G、400G 標準光學量測技術的最新發展，以及業界唯一支援多 OMA 系統的光學調變分析軟體的端對端示範。

Tektronix在OFC 2017上展示為資料中心網路所開發的最新光學通訊測試技術，OFC 2017是專為全球頂尖的光學通訊和網路專業人士所舉辦的研討會。

Tektronix高效能示波器總經理Brian Reich表示：「隨著100G投入生產及400G設計工作全面展開，與矽晶和系統設計特性分析、驗證和除錯有關的測試挑戰將日益嚴峻。OFC與會者將能親眼目睹Tektronix正協助廣大的客戶不斷挑戰更高資料速率、新興標準及尖端科技研發的極限，同時利用我們的高效能解決方案有效縮短產品上市的週期。」

資料中心網路技術提供商希望能不斷提升高速資料傳輸的容量和精確度。Tektronix提供了一套可分析電氣和光學效能特性的完善高效能解決方案，並在OFC進行展示，內容包括DSA8300取樣示波器搭配80GHz光學取樣模組，可支援針對TDECQ以IEEE 802.3bs為基礎的 400G光學測試，包括適用於NRZ和PAM-4(高達28GBd)的高靈敏度單一模式？多模式光學量測。

DPO70000SX 70GHz ATI 高效能示波器，可利用適用於 400G 標準的即時觸發和後等化錯誤偵測功能，分析單次 PAM-4 訊號。

業界唯一支援多 OMA 系統之光學調變分析軟體的端對端示範，包括AWG70000系列任意波形產生器及DPO70000SX示波器，適合空間分隔多工(Spatial Division Multiplexing)等應用。發布多種新品，將可推動下一代光學裝置和互連裝置的製造良率明顯改善。