物聯網應用範圍越廣 元件測試挑戰越大
- 劉慧蘭／綜合報導
物聯網(IoT)元件測試正面臨新挑戰，部分元件可以和標準半導體一樣進行測試，但有些元件如強調安全性的微控制器和醫療設備、軍事／航太系統和汽車電子等裝置使用的晶片，則需要另訂測試標準，確保符合功能性的安全要求。
據Semiconductor ...
會員登入
會員服務申請/試用
申請專線：
+886-02-87125398。
(週一至週五工作日9:00~18:00)
+886-02-87125398。
(週一至週五工作日9:00~18:00)
關鍵字
