機器學習有助開發無程式錯誤晶片 開啟新應用途徑
- 楊智家／綜合報導
機器學習(ML)技術開始逐漸在全球電子設計自動化(EDA)領域扮演要角，在2017年設計自動化會議(DAC 2017)上超過2成報告甚至是與機器學習技術相關，不過機器學習應用仍未均勻分布，其中資料近用即為一大課題，而安謀(ARM)自2年前開始在晶片設計上進行關...
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