愛德萬測試將於舊金山SEMICON West展示最新方案

半導體測試設備領導供應商愛德萬測試(Advantest Corporation)將於7月11至13日假舊金山莫斯康展覽中心(Moscone Center)盛大登場的2017 SEMICON West貿易展，向業界展示創新測試解決方案，並發表3篇技術論文。

愛德萬測試同時也是大會多場活動的贊助商。愛德萬測試全球行銷傳播副總Judy Davies表示：「愛德萬測試為全球半導體測試解決方案龍頭，具備絕佳優勢為現今高度連網的世界提供端對端解決方案。2017年更藉由贊助SEMICON West貿易展的SMART Journey展館，來強化愛德萬測試在車用電子與物聯網(IoT)領域長期以來的深度耕耘。」

愛德萬測試將於北廳(North Hall)#5868攤位展示針對各類半導體裝置測試與測量需求所設計的多項平台產品。本次亦將展出多功能V93000單一可擴充平台，以及通過嚴謹測試的Wave Scale RF通道卡與最新Wave Scale MX-HR卡，可測試高解析度的轉換器和物聯網裝置。配備這些卡的V93000測試系統，能夠以最高效能測試被廣泛使用於無線通訊及其他應用中的射頻(RF)與混合訊號IC。

愛德萬測試亦將同時展示多功能的T2000平台，該系統能以最低的測試成本滿足客戶對於先進裝置與模組測試的需求，幫助半導體製造商迅速達成車用IC與MCU在品質與效能方面的需求。

此外，用於量測類比、混合訊號與數位裝置的EVA100系統，也將與最新的記憶體測試機一同亮相。前者在設計上大幅提升成本效益，後者則針對廣泛應用於可攜式電子產品的多重記憶體裝置，在大量測試與晶圓級測試的需求上，提供最符合經濟效益的選擇。愛德萬測試的展示攤位亦將透過數位影像展示系統級測試(SLT)與奈米科技解決方案，以及其他服務與支援方案。

愛德萬測試的技術專家將於Test Vision 2020論壇發表3篇技術論文，該論壇於馬奎斯萬豪酒店(Marriott Marquis Hotel)舉行，愛德萬測試為白金級贊助商。

7月12日(三)下午1時25分由愛德萬測試的Dave Armstrong發表「阻抗的挑戰與因應」(Contact Resistance Challenges and a Solution)論文。7月13日(四)上午9:20則由愛德萬測試的Roger McAleenan接力登場，和與會貴賓討論「mmWave測試的挑戰」(mmWave Test Challenges)。同日下午2:25則有愛德萬測試的Kotaro Hasegawa以「量產物聯網模組的測試挑戰」(The Challenges of Testing IoT Modules for Mass Production)為題發表演說。

愛德萬測試在SEMICON West是SMART Journey展館的贊助商，該展覽運用虛擬實境(VR)與擴增實境(AR)技術，帶領與會貴賓一窺智慧汽車與智慧製造應用的為未來發展趨勢。展覽位於西館(West Hall)的#7237攤位，場內亦配備放映室，並有技術專家隨侍在側，隨時提供說明。