安立知VNA推出UFX去嵌入功能

Anritsu安立知為其VectorStar向量網路分析儀(VNA)推出通用夾具提取(Universal Fixture Extraction；UFX)選項，提供訊號完整性及on-wafer工程師更廣泛的on-wafer及夾具校準選擇，即使是在不具備全套校準標準時亦能使用。

專為滿足4G及新興5G系統、以及回程網路及資料中心之高頻、高數據速率需求相關的設計挑戰，UFX具備獨特的分析工具，使工程師可以更準確、更有效地進行評估設計。

配置UFX的VectorStar VNA可為訊號完整性及on-wafer工程師提供多重優勢。該VNA解決方案經由強化測試夾具去嵌入來強化模型精度，進而提升首次產能，因此可加速上市時程。同時，亦提供工程師開發具備競爭優勢的高速資料吞吐量產品之能力。

完全校正的測試夾具校準技術要求夾具傳輸路徑兩端需具備一套完整的校準標準。在無法取得完整校準標準之環境中，傳統的方法是假設夾具的兩個路徑是完全對稱並具備完美的匹配，但由於這是非典型的方法，因此使用先前的技術將導致大量的去嵌入錯誤。UFX選項提供了先進的去嵌入工具，使工程師能隨著標準可用性的提高逐步增加校準標準和特徵數據，以提高夾具提取準確度。

為協助分析在測試夾具中的隔離缺陷，UFX亦內含定序剝離(Sequential Peeling)功能。訊號完整性工程師可根據相位函數匹配，在夾具的某個部分(例如常見的傳輸部分)產生.sNp檔。該功能提供了更詳細的夾具資訊，進而可以更輕鬆地改良測試夾具設計。

UFX進一步擴展了VectorStar領先業界的功能，以進行on-wafer元件特性描述，以及高速資料傳輸的測量。Anritsu安立知卓越VNA產品線–ectorStar採用獲得專利的NLTL技術，能提供單一儀器70kHz？145GHz的最廣覆蓋率。該系列VNA提供研發工程師所需的效能水準，以準確且可靠地建模高頻元件，並驗證最先進的設計，同時可在確保精度的情況下達到最高處理能力。