矽品實現AI瑕疵檢測全自動化 下一步攻克製程虛擬量測
- 廖家宜／台中
矽品精密自2018年啟動ADC(Automatic Defect Classification，自動瑕疵分類)計畫，將人工智慧(AI)落實於晶圓瑕疵檢測，透過全自動化不僅可縮減人力成本，更可大幅提高檢測效率。目前矽品每月生產的晶圓凸塊(wafer bumping)封裝，...
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