【專家觀點】揭密紫光雷射法 突破半導體的檢測瓶頸
- 台灣西克／專欄
半導體前段檢測中屬於裸晶類型的產品，基於特殊的表面反光性質而使得檢測流程具有一定困難度，為此各大AOI檢測設備業者也積極地尋找新的解決方案。
在半導體檢測中，往往因不同表面性質的基板而造成檢測上的誤差，...
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