精彩回顧
活動介紹
Siemens EDA Forum 2023是EDA年度盛會,來自 Siemens EDA多位技術專家與業界菁英,線上分享最前瞻的半導體業界趨勢發展。今年在五大議題:AI EDA Tool、Automotive IC、Complex SoC、Advanced Node、以及最熱門的3D IC等領域共有20場演講,與您一起探討當前IC設計及半導體產業最先進的技術、研發趨勢和應用現況。
現在請利用方便的隨選觀看活動網頁,與我們共同積極佈局設計,決勝未來!
精彩回顧
在不確定性中攜手逆市而行
半導體產業正在經歷一個前所未有的時代,無論是大規模的供應鏈波動,抑或是全球性的新冠疫情,過去三、四年半導體處於一個「非典型的產業周期。随着產業進行庫存調整和其他結構性變化,不確定性開始顯現。這種不確定性可能會造成一定的短期收縮,但隨着市場逐漸步入新常態,我們對半導體產業的未來依然保持樂觀。
這麼多的超級趨勢同時在短時間内匯聚非常罕見而其中多數的趨勢都需要真正的設計創新;從歷史來看,在市場回落期間積極投資設計的企業,最終會在經濟復甦時期更快崛起並取得成功。在 SIEMENS EDA FORUM HSINCHU 2023, 西門子數位工業軟體 IC-EDA 執行副總裁 Joseph Sawicki 在本次演講中探討過去的半導體趨勢,並說明EDA的創新能力,期望助您在即將到來的市場復甦中獲得先機,取得成功。
Emerging stronger from the downturn
Joseph Sawicki, Executive Vice President, IC EDA, Siemens EDA
TRACK 1
AI EDA Tools
人工智慧(AI)與EDA工具之結合開啟了IC設計的全新時代,不僅有助於大幅縮短複雜晶片設計時程,也能提升設計成果品質、滿足終端應用對IC功耗/性能/面積(PPA)越來越嚴苛的要求。在「人工智慧EDA工具」分場的四場專題演講,Siemens EDA的技術專家除了將介紹利用機器學習(ML)建模輔助熱點預測、缺陷分類、佈局差異比對等任務的Calibre SONR分析工具,以AI引擎實現高精確度PVT (process, voltage, and temperature)變異感知驗證的Solido Variation Designer與Analog FastSPICE (AFS)解決方案,也將分享如何以ML與幾乎可無限擴充資源的雲端運算實現之可協作、可追溯創新技術提升設計驗證流程效率,並助力複雜SoC的設計者克服標準單元與記憶體IP整合與驗證的挑戰。
Calibre SONR - Machine Learning Based Process Aware Layout Analytics
Chuan-Chun Lee
Getting the Right Answer with Machine Learning - Utilizing Solido Variation Designer for Accurate Variation-aware Design Verification
Jiandong Ge
Evolutionary and Revolutionary Innovation for Effective Verification Management & Closure
Layra Men
Increasing quality and achieving power, performance, and area metrics for standard cell and memory IP by utilizing Solido library IP solutions
Leo Chang
Track 2
Automotive IC
滿足對安全性的嚴苛要求是車用IC設計任務的首要目標,不但須符合ISO 26262汽車產業功能安全國際標準,還要避免先進連網車輛/自駕車受到網路安全威脅以保護人身安全。Siemens EDA致力協助工程師克服車用IC設計挑戰,持續強化車用功能安全模擬分析與驗證、測試解決方案陣容。在「車用IC設計」分場的四場專題演講,將為聽眾介紹Siemens具備易用性優勢的一體化平台,如何透過整合的閉迴路工作流程,協助工程師輕鬆完成安全性架構分析;還有一個全面性、可互通的工作流程,能藉由一系列安全性應用程式,將實現安全架構不可或缺的失效模式效應與診斷分析分析(FMEA)步驟自動化,助力工程師提升車用晶片開發效率。此外亦將分享透過Tessent嵌入式分析軟體等DFT技術,從系統內部加速符合汽車產業功能安全性標準的測試流程;以及針對連網車輛可能遭遇的網路安全威脅,如何利用基於硬體的方法進行偵測、降低安全性風險。
The Union of SoC Design Phases and the Functional Safety Flow
Ann Keffer
Automate ISO 26262 FMEDA
CY Chang
Improving Test Quality and Reliability for Automotive ICs via In-system/In-field Testing
Ivan Chou
YiChiang Chang Hardware-Based Cybersecurity Threat Detection and Mitigation Using Tessent Embedded Analytics
YiChiang Chang
Track 3
Complex SOC
聚焦複雜耗時的系統單晶片(SoC)設計任務, Siemens EDA的Veloce系列驗證工具是助力工程師加速產品上市時程的關鍵武器。在「複雜系統單晶片」分場,專業講師將介紹能與Veloce Strato硬體模擬平台、Veloce Primo 企業級原型驗證平台緊密配合的桌面FPGA原型驗證系統proFPGA,還有支援Tessent串流掃描網路(SSN)技術的最新DFT解決方案。此外著眼於終端裝置對低耗電的需求,也將分享工程師能如何透過在SoC設計流程初期部署PowerPro功率最佳化平台,以及利用Velco系列硬體模擬解決方案,有效解決SoC設計中越來越受矚目的功耗與電源分析/管理等關鍵議題。
Veloce proFPGA increases design efficiency and brings SoCs to market faster
David Lu
Optimal DFT Solution with Tessent SSN - Lower Cost, Better PPA and Faster TTM
Jeff Fan
Power Optimization for Low-power Designs with an Early Power Methodology
Thomas Lin
Increasing efficiency in Power Analysis and Management Using Velcoe Emulation Platform
David Lu
Track 4
Advanced Node
今日的半導體尖端製程為IC設計工程師帶來了全新且更加複雜的挑戰。在「先進節點」分場,Siemens EDA專業講師將介紹Aprisa佈局與繞線工具,如何透過一種以細部佈線為中心的智慧方案,助力設計工程師在「投片前最後一哩」漂亮完成設計收斂任務;還有結合雲端技術的Calibre nmDRC平台如何透過運算資源的擴充與跨組織協作,完成支援台積電(TSMC)最新量產N3E製程的先進設計。此外也將介紹以AI驅動、能滿足終端裝置對半導體晶片PPA越來越高要求的AI驅動客製化IC驗證平台解決方案,以及能取代傳統昂貴、工程密集電源完整性方法,實現先進製程可靠投片的電晶體級EMIR分析工具mPower。
Aprisa Intrinsic Intelligence P&R for Advanced Node Designs
Henry Chang
Solving advanced node verification challenges with AI-powered Custom IC Verification platform from Siemens EDA
Jason Pang
mPower transistor-level EMIR enables large scale EMIR for confident tape-outs
Alvin Liu
Track 5
3D-IC
以先進封裝實現的3D IC堆疊方法,是半導體產業突破摩爾定律極限的關鍵技術。透過「3D-IC」分場的四場專業技術演講,聽眾將了解Siemens EDA針對先進封裝設計流程與驗證所提供的一系列解決方案。包括介紹能以高效率完成3D IC驗證任務的xSI-3DSTACK設計流程,並邀請到利用該流程成功開發經驗證封裝設計套件(ADK)的日月光(ASE)專家現身說法。還有能精確提取異質整和系統寄生參數、以確保整體元件性能符合需求的Siemens PEX解決方案,以及結合2.5D/3D晶片規劃、實體設計與驗證的Xpedition Package Designer (XPD)平台;來自聯發科(MediaTek)的講者也將與現場聽眾分享在設計上的實際經驗。此外針對3D IC元件從平面進化至立體的測試挑戰,還將介紹符合IEEE 1838標準測試架構的Tessent系列Multi-die軟體,如何加速高度複雜的2.5D/3D設計DFT任務。
3DIC Overview and using xSI and Calibre 3DSTACK flow for 3DIC assembly verification
Rony Wang、Gordon Chang
Heterogenous Integrated System Parasitic Extraction Solutions
Myron Lin
How assorted functions in XPD make you accomplish advanced package designs efficiently
Eddy Lu、Gerald Hsu
Implementing DFT in 2.5D/3D Design using Tessent Test Solutions
Jeff Fan
回顧好禮
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