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愛德萬測試針對T2000測試平台推出最新影像擷取模組

  • 陳其璐台北

愛德萬測試發表最新模組,強化T2000平台對智慧型手機D-PHY、C-PHY影像IC測試能力。多功能模組為D-PHY IC提供業界最快擷取速度並針對先進C-PHY元件首創64接點測試解決方案。
愛德萬測試發表最新模組,強化T2000平台對智慧型手機D-PHY、C-PHY影像IC測試能力。多功能模組為D-PHY IC提供業界最快擷取速度並針對先進C-PHY元件首創64接點測試解決方案。

愛德萬測試Advantest Corporation推出針對旗下T2000測試平台之最新高速CMOS影像擷取模組,允許同時測試64個同時擁有D-PHY與C-PHY傳輸介面之智慧型手機元件。最新T2000 4.8-Gbps CMOS影像擷取模組,又稱作4.8GICAP,這樣的設計能有效率地傳輸來自CMOS影像感測器 (CIS)資料到T2000高性能影像處理器引擎 (IPE),也是首款量產的測試解決方案,可為C-PHY v1.2版元件提供最高3.5 Gsps的擷取速度;並為D-PHY v2.1版元件提供業界最快4.8 Gbps的擷取速度。

據估計,現今生產的CIS元件有75%都用於智慧型手機相機。愛德萬測試研究指出,鑒於最新一代的智慧型手機都主打多鏡頭,預料CIS產量在未來4年將成長約41%。再加上最新CIS元件具備有約1億畫素的超高解析度,這些因素再再推升業者對於測試解決方案的需求,不僅要能處理空前的資料量,還要能高速運作,才能以更高的成本效益服務快速擴張的智慧型手機市場。

4.8GICAP模組搭配愛德萬測試第3代IPE,透過雙記憶體庫機制能在擷取影像資料的同時傳輸資料給IPE,這將大幅縮短測試時間。

這款模組設計安裝於T2000 ISS測試機,具備完整相容的測試程式、探針機、光源機和裝置介面。能同時測試64個擁有MIPI標準D-PHY與最新C-PHY傳輸介面之元件,透過高速資料傳輸線提供業界領先的效能。

功能多元的T2000測試平台幫助客戶能以最低資本支出,快速因應變化萬千的市場需求,同時又縮短新設計的開發時程。其模組化結構最適合因應新世代元件的需求。愛德萬測試T2000事業單位副總Toshiaki Adachi表示,愛德萬測試創造出能處理更大量資料傳輸和更快速之CIS元件的量測環境,協助智慧型手機相機市場提升成本效益。4.8GICAP模組已開始出貨給多家重要客戶。