思達科技全合一動態大電流/高電壓可靠度測試系統已接單出貨

半導體可靠度測試系統領導廠商思達科技，宣布全合一SMU-per-pin測試系統—思達冥王星STAr Pluto-hiVIP，已獲得半導體標竿產業客戶訂單且完成出貨。此系統配置應用在TSV、銅柱(Copper-Pillar)、微凸塊(micro-bump)等多腳數元件的低/大電流動態AC電子遷移和老化測試，以及高壓、高功率HCI和NBTI HCI/NBTI，與高壓GOI可靠度測試。

思達冥王星Pluto系列是次世代可靠度測試解決方案，應用範圍包括封裝級和晶圓級驗證，多樣配置可滿足EM、HCI、NBTI、TDDB等的產業測試要求。此系列中Pluto-hiVIP，是一款新型、支援更高電流和電壓的先進測試系統，具有可以輕鬆升級至大容量系統的彈性架構，單一系統內可進行多個應用。

最大配置包括48個電源與量測單元(Source and Measurement Unit；SMU)，每個模組具有2個獨立電源，共有96個電源可進行多被測元件數的驗證，實現更高的測試性能，同時顯著增加高電流和電壓可靠度測試容量。

思達冥王星Pluto-hiVIP是完整的整合封裝級高溫可靠度測試解決方案，開發應用在支援大電流EM、大功率HCI/BTI和高壓TDDB驗證。設計用在平行應力和測試，最大可支援4.0A dc，高擊穿電壓可達100V，熱溫室溫度在攝氏18至400度，被測元件(DUT)板具有零插入力測試插座，確保一整個環境，適合在單個系統內進行從室溫HCI至高溫EM的全套可靠度測試。冥王星Pluto-hiVIP系統，實現了主要且關鍵的高精準度測試結果和驗證性能。

思達科技執行長與技術長劉俊良博士表示：「此次接單出貨代表產業客戶對於STAr Pluto系列，卓越的能力、效率和測試精準度的肯定。Pluto系列測試系統，是以新的硬體和軟體架構為基礎，滿足現今和未來的半導體驗證測試要求，同時減少客戶的測試工程人力時間成本，達到最好的測試表現和更高的產能。」