物聯網複雜多變 愛德萬提供高效率多元測試

愛德萬測試股份有限公司副總經理蘇勇鴻。

隨著物聯網趨勢的崛起，半導體自動測試設備領導供應商愛德萬測試(Advantest)近幾年針對物聯網領域中多變複雜的技術特性，持續推出整合性更高的量測解決方案，滿足低階至高階、晶片至系統層級，以及研發端至產線的各種量測需求。

「物聯網元件的整合度很高，因此，如果測試設備的功能不夠齊全，往往就會拉長測試時間，拖慢產品的開發速度，甚至是延遲上市時間，這對於物聯網業者市場競爭是很不利。」愛德萬新產品事業處副總經理蘇勇鴻道出物聯網業者最重視的測試訴求，「為了解決這個問題，物聯網測試平台開發就儘可能納入多元測試功能。」循此思維， V93000行之多年可擴充式的平台設計正足以因應此多元型態的測試需求。

Universal Pin架構 提供多元測試

V93000平台重要特性之一為萬用接腳(Universal Pin)架構設計，適足以符合物聯網廠商對於多元測試的需求。何謂Universal Pin？蘇勇鴻進一步說明，「我們在單一板卡上提供數位、類比、電源及基礎RF測試能力，也就是說，只要利用一張卡片就滿足各種不同測試需求，非常有效率，可以大幅縮短產品開發生產時間。」

此外，由於物聯網元件強調低功耗特性，因此相關測試必須確保能提供十分精確量測條件，以愛德萬V93000 PS1600板卡為例，電壓量測可小至1mV；電流量測小至10nA，已能符合現階段物聯網元件測試所需。

值得一提的是，V93000採用的擴充性架構設計，則讓物聯網客戶能使用同一平台搭配不同模組，來因應層出不窮的通訊及網路技術格式。

蘇勇鴻表示，「採用同一機台，客戶可省下添購新設備成本及學習時間。」愛德萬新近推出擴充板卡-Wave Scale系列通道卡，就是針對物聯網可能採用的射頻及無線通訊技術提供高效率測試解決方案，甚至能因應未來5G網路導入。此前推出Wave Scale系列通道卡包括Wave Scale RF卡及相對應的Wave Scale MX卡。

可擴充架構 降低測試複雜度及成本

Wave Scale系列通道卡能讓眾多元件同測，且元件內部能進行平行測試，此種作法的重大意義在於能夠大幅縮減現有RF半導體測試成本及上市時間。

「傳統射頻測試解決方案是針對射頻IC執行多元件測試，然而每個元件每次只能測試一項射頻標準，想當然這是非常耗時。」蘇勇鴻進一步說明，「Wave Scale卡勝出之處，就在於每個射頻元件內能同時測試多個標準或路徑，讓物聯網業者能以簡單方式完成複雜射頻裝置測試。」

根據愛德萬提供資料，Wave Scale RF卡有4組獨立射頻子系統，每一子系統都具備訊號產生及頻率量測的設計，因此可同時測試LTE、GPS、藍牙、WLAN裝置。每個子系統分別有8個連接埠，可同時扇出射頻訊號，亦有高達4組獨立量測工具。也就是說，每個射頻子系統能同時在8個元件上執行RX(接收器)及TX(發射器)的測試，每張卡最多可達32個同測元件。

Wave Scale MX高速卡則是每張卡具有32組完全獨立的工具，能針對類比IQ基頻應用、高速數位類比轉換器(DAC)、類比數位轉換器(ADC)等提供最佳化的設計，每個腳位均有一組參數測量單元(PMU)，可執行精準的直流量測。

完整物聯網測試方案  協助客戶勝出市場

愛德萬針對物聯網測試的布局日益完整，除了完善V93000平台及相關衍生模組產品外，T2000系統及EVA100測量平台也已進行功能擴充，以滿足物聯網測試需求。

其中，針對現階段物聯網晶片多整合有微控制與應用處理器；以執行通訊、電源管理和感測等許多功能，愛德萬推出T2000 AiR系統，為高整合度晶片提供高效率類比？混合訊號IC量測。

此外，基於EVA100測量平台HF-AWGD(高頻任意波形產生器與示波器)模組，則針對高解析、高速類比裝置提供測試方案，主要鎖定車載電子市場。另值得一提的是可攜式MicroLTE系統推出，能更機動地支援LTE-M裝置測試。

物聯網發展日新月異，相關測試需求持續變化，身為量測設備業者，愛德萬透過各種平台功能持續擴充；提供最具效率及成本效益測試方案，協助客戶打造面對激烈市場競爭的即戰力。