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汎銓積極布局TEM 強化半導體先進製程分析能量

  • 鄭斐文台北

汎銓科技執行副總暨技術長陳榮欽。
汎銓科技執行副總暨技術長陳榮欽。

隨著半導體製程精進,一些原本被視為矽材料物理極限的關卡,不管是幾年前的22奈米、或後來的7奈米,都因新材料、新結構的出現而告突破;持續不斷的創新研發,不僅支撐半導體暨相關設備產業的發展,亦使材料分析產業雨露均霑,譬如擅長提供穿透式電子顯微鏡(TEM)、聚焦離子束顯微鏡(FIB)等材料結構分析服務的汎銓科技(MSS),即受益良多。

汎銓科技執行副總暨技術長陳榮欽認為,展望今明兩年,一方面伴隨5奈米、3奈米等等先進製程的推展,其間應運而生的新材料或新結構,皆需進行功能性驗證,二方面大陸的半導體新廠為數甚多,儘管普遍落在28、16或14等奈米製程,但同樣需要借重TEM分析;由此觀之,無論新技術或原有需求的擴充,都將驅使TEM材料分析需求攀高。

陳榮欽形容,TEM有點像人的眼睛,但人眼解析極限僅為毫米等級,電子顯微鏡(以下簡稱「電鏡」)卻可達到奈米等級,彼此差距為百萬倍;而電鏡又可分為TEM透射電鏡,及SEM掃描電鏡,惟隨著16、10、7、5、3等奈米製程一路推進,唯獨TEM猶能展現出色的圖像解析度。

所謂TEM,是利用高能電子束穿透超薄樣品,擷取直射電子或彈性散射電子成像,抑或作成繞射圖案,以解析超薄樣品的微結構組織及晶體結構。

要想做好TEM,主要維繫在「觀察」與「製備」等兩大關鍵,這些固然都需要仰靠設備輔助,但任何材料分析業者只要願意投資,其實都不難引入先進儀器,你有的,他可能也有,故單憑設備不足以建立絕對的競爭力,必須借重技術人才、展現優異的研發能力,才能讓相同設備得以發揮不同效益。

掌握獨特訣竅  避免TEM樣品受傷害

「汎銓在TEM的布局關鍵,就是人才培育」陳榮欽說,TEM係以電子束來穿透樣品,而樣品的厚薄度,將決定TEM影像品質,因此欲展現好的「觀察」能力,就必須先練好「製備」基本功。

從製備到觀察,汎銓從不輕忽每一環節,也不吝投注資源培養人才,例如對於負責樣品前置處理的助理人員,平均給薪達到新台幣70萬元水準,等於業界具碩士學位的工程師薪酬,有助於確保樣品表面清潔、鍍保護層等等基礎工作,都必定做得扎實到位,由此不難看出汎銓對於樣品處理的人力與技能養成,確實十分重視;影響所及,如今汎銓對樣品的減薄能力,已縱深到業界平均水準(100nm)的1/10到1/5厚度,足以透析樣品當中任何單一結構。

論及汎銓賴以塑造差異化優勢之關鍵,除了人才培育、樣品處理能力,尚包括幾個面向。首先汎銓一向秉持「中央空廚」做法,不論製備、產出分析報告的地點,都集中在新竹總公司,與同業慣於貼近重要客戶、設置分支據點之做法,有莫大差異。

陳榮欽解釋,將分析服務能量予以分散部署,好處是增加能見度,讓客戶容易看到你,但連帶徒增管理難度,可能礙於備多力分,使某些據點未必擁有足夠的專業人才;汎銓評估,台灣的半導體製造與設計業者,大致座落在新竹、台南與台北等地,縱使客戶位於較遠的南科,汎銓亦能在3小時內取得樣品,而且拜能力與資源全數集中所賜,也更有優勢條件,足以妥善回應客戶需求,產出好的分析報告。

另不可諱言,TEM藉由高速電壓解析影像,難免對樣品有所影響,某些材料譬如光阻材料、低介電材料(low-k)等等,都可能產生變形,使客戶端製程參數的調整出現誤差;有鑑於此,汎銓組織了專門的研發團隊,設法將此影響限縮在可控範圍,至今已展現成效,尤其對於抑制光阻的變形,已達到領先業界的水準。

持平而論,客戶檢視材料分析服務業者的主要癥結,不外乎在於品質、交期、價格,誰愈能讓三塊趨於最佳平衡,就愈有機會贏得客戶芳心,其中較不容易凸顯差異化優勢的環節,莫過於交期;為此汎銓發展特殊的排程方法,可在既定產能下,針對忠誠度較高的客戶,給予較好的交期承諾,幫助客戶加快Time to Market進程。

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