OSAT和無晶圓廠選定AMB7600-S為首選射頻平台

AMB7600-S正式發布在SEMICON Taiwan 2017。圖中由左到右為：明試國際總執行官伍尚明、漢天下電子技術有限公司副總經理歐陽毅、江蘇長電科技股份有限公司測試廠廠長李志立、嘉盛半導體(蘇州)有限公司測試部經理張志成、明試國際亞太區總經理林秀鴻、明試國際高級市場總監陳義強。

在射頻(RF)測試解決方案方面取得非凡業績的射頻自動測試設備(ATE)領導者明試國際(Aemulus)宣布，近期推出的AMB7600-S平台，由業界佼佼者選定為首選測試平台。明試展現在4G LTE(長期演進)功率放大器上能有效的降低測試成本，AMB7600-S平台解決方案加上自身的嵌入式RealSmart特點，能夠使總體成本降低將近50%。

嘉盛半導體(蘇州)有限公司是明試國際的AMB7600長期客戶，該公司的測試部門經理張志成表示，「在我們與明試合作的上一個專案中，AMB7600射頻測試系統以其時間分隔式多站測試技術功能，在測試時間和成本方面擁有競爭優勢。我們希望這種成功能夠在我們採用AMB7600-S的下一個項目時得以複製，我們還相信RealSmart虛擬化測試系統(VT)技術結合其RealSmart硬體抽離技術(HAT)，將進一步降低測試成本和投資。」

江蘇長電科技股份有限公司電路測試廠廠長李志立在贊同張志成的觀點時說，「我們在工廠運行著多個AMB7600系統，並且時間分隔式多站測試技術證明了自身價值，從而成為我們首選的射頻測試系統。AMB7600-S將會是我們未來平台的首選，我們還希望同時進一步降低測試成本，加快產品上市時間。」

明試國際在SEMICON Taiwan 2017(2017年台灣國際半導體展)推出AMB7600-S，張志成、李志立和漢天下電子技術有限公司副總經理歐陽毅皆參與其中。歐陽毅表示，「我們決定與明試就我們的一個專案開展合作，這是因為AMB7600-S是一項不錯的投資。RealSmart技術為我們提供更加全面的配套；其體積小，測試時間較快並能針對未來項目進行輕鬆升級。」

AMB7600-S是第三代射頻前端模組(FEM)測試系統，旨在兼顧成本和資源效益。AMB7600-S能夠進行拓展，覆蓋更多的複雜射頻設備。依託嵌入的RealSmart虛擬化測試系統、RealSmart硬體抽離技術和RealSmart工業4.0框架，AMB7600-S將提供更好的智慧和強大的預測演算法，從而最終保持最好的設備運營效率(OEE)。

明試國際總執行官伍尚明則表示，「在對我們客戶的體驗進行多層面評估之後，我們決定開發新的測試技術，這種技術不僅要能符合客戶的需求，還要兼顧科技的轉變。我們非常高興我們得到了許多不錯的反應。」想進一步了解Aemulus產品技術，請上Aemulus官網查詢。