穿戴裝置吹起輕薄風 帶動封測技術大進化
儘管智慧型手機出貨量在2016年出貨量創下13.6億的新高,但成長率僅有4.7%左右,且平均銷售價格也不斷持續下滑中。為求能夠在競爭激烈的市場中勝出,各家業者在加快新款手機推出速度之虞,也著重在軟體新功能的研發,以及推出更輕、更薄的手機,以2009年上市的Apple iPhone 3GS為例,手機厚度為12.3mm、重量為135克,但是2016年上市的Apple iPhone 7,在功能與運算能力大幅提升的狀況下,手機厚度反而縮減到7.1mm、重量則僅微增到138公克。
前述狀況也出現在當紅穿戴式裝置上,在使用者體驗當道的狀況下,業者亦極力推出更小、更便於攜帶的裝置,讓消費者可隨時偵測心跳、運動狀況等生理資訊,乃至於記錄騎乘自行車的完整歷程。只是受惠於半導體製成從早期32/28nm,進步到主流的16/14nm,各種晶片體積得以縮小,但若沒有先進封測技術加持,縮短各晶片之間電流與資料的傳輸距離,亦恐怕不易達成輕薄短小的目標。
預先整合多顆晶片 系統級封裝有助縮小體積
傳統電子設備的晶片封裝方式,多半採用單列直插封裝、插針網格陣列、球柵陣列封裝等,不僅可保護核心晶片運作過程中的安全,亦能防止碰撞或劃傷的物理損壞,並提供對外連接的引腳,可方便與其他晶片串連。最後,再利用線徑15?50微米的金屬線材,將晶片及導線架連接起來的打線接合技術,串連整個電路板中的各種應用晶片晶片,便能完成讓電子設備能夠正常運作的目的。
儘管前述傳統封測技術已相當成熟,且具備良率高、成本低廉的優點,但是受限於材料上的物理限制,已經很難在既有基礎上將晶片之間的距離縮短,以至於無法符合時下輕、薄的趨勢,以及更省電的要求。為此,許多半導體業者、封測業者便捨棄前述傳統技術,改以系統級封裝(SiP)、晶圓級晶片尺寸封裝(WL-CSP)的方式,將感測元件、微控制器、處理器、記憶體、被動元件、功率放大器等關鍵元件,整合體積愈來愈小的行動設備中。
簡單來說,系統級封裝是SOC為基礎所發展出來的先進封装技術,即是將晶片以2D、3D的方式接合到整合型基板的封裝方式,構建成更為複雜的、完整的系統。
該技術包括多晶片模組、多晶片封裝、晶片堆疊、堆疊式封裝、Package in Package、內埋元件基板等多種,儘管封裝方式與應用面相稍有差異,但最大特色在於能夠減小封裝體積、重量,以及達成降低功耗的目標。
節省空間與距離 覆晶封裝技術受青睞
身為全球封測市場龍頭的日月光,在系統級封裝之外,也在2016年Computex Taipei中,展出針對消費性電子體輕薄化設計的覆晶封裝技術(Flip-Chip),為微型化、行動裝置與物聯網提供所需解決方案。
覆晶封裝技術是將晶片連接點,轉變成凸塊成為晶圓凸塊(wafer bumping)後,在將晶片翻轉過來使凸塊與基板直接連結,即可達成節省下空間的目標。
由於晶圓凸塊上每個凸點皆是IC信號接點,多用於體積較小的封裝產品上,其運作原理為利用薄膜製程、蒸鍍、電鍍或印刷技術,將銲錫直接置於IC腳墊上,接著再利用熱能將凸塊熔融,並進行封裝,具有密度大、低感應、散熱能力佳等優點。
至於覆晶封裝內部,則是利用凸塊作為電氣通導路徑,分布範圍整個晶片,位於晶片中心附近的凸塊品質檢測,則仰賴賴自動化檢測設備以確保凸塊品質,藉此達成高良率目標,也是目前穿戴式裝置常用的封測技術之一。
至於時下討論度極高的晶圓級封裝(Wafer Level Packaging;WLP),則是在整片晶圓生產完成後,直接在晶圓上進行封裝測試,完成之後才切割製成單顆IC,不須經過打線或填膠,而封裝之後的晶片尺寸等同晶粒原來大小,因此常被稱為晶片尺寸晶圓級封裝(Wafer Level Chip Scale Package;WLCSP)。
相較於前述封裝方式,WLP具有較小封裝尺寸與較佳電性表現的優勢,較容易組裝製程、降低整體生產成本等。此外,由於WLP可整合晶圓製造、封裝和測試,可省下送去封測廠封測的時間,可簡化晶圓代工到產品出貨的製造過程。
傳統WLP封裝多採用Fan in型態,但是伴隨IC信號輸出的接腳數目增加,對球距要求趨於嚴格,加上部分元件對於封裝後尺寸、信號輸出腳位元位置的調整需求,因此變化衍生出Fan out,或是Fan in及Fan out相互運用等各式新型WLP封裝型態,其製程概念已跳脫傳統WLP封裝。
目前WLP主要搭配28、16奈米等先進製程使用,主打價格較高、訴求效能的消費性電子產品。而看好WLP未來發展潛力,包括日月光、矽品、力成等大型封測廠,以及主打客製化服務的新晶圓或封測廠,均積極加強化高階封裝製程能力,期望藉此爭取到毛利較高的訂單,同時強化因應物聯網時代來臨的能力。
突破材料、成本瓶頸 扇出型晶圓級封裝技術鎖定穿戴裝置
儘管台積電始終沒有公開承認,不過多數專家認為該公司能夠獨攬Apple iPhone 7訂單的關鍵,便在於擁有自行研發的整合扇出型晶圓級封裝技術(Integrated Fan-Out),能夠滿足智慧型手機晶片接腳數目快速增加,以及對體積必須輕薄、短小的要求。
該技術是以前述Fan out技術為基礎,最大特性在於不需要搭配基板使用,即可讓多種不同晶片彼此溝通與交換資料,省去傳統封裝製程時間與成本,不僅封測成本相對便宜,封裝厚度也可變得更薄,完全迎合時下消費電子產品走向便於攜帶的趨勢。
其實,扇出型晶圓級封裝概念是由英特爾移動(Intel Mobile)提出,並且在2009-2010年期間商業化量產,初期主要應用在手機基頻晶片的單晶片封裝,2012年則首度被應用在無線通訊設備之中。
然而若要在28奈米、16奈米等先進製程使用扇出型晶圓級封裝技術,則必須克服焊接點的熱機械行為、晶片位置之精確度、晶圓的翹曲行為、膠體的剝落現象等問題,所以該封測技術曾經一度面臨應用上瓶頸,被許多專家視為不適合商業化使用。
不過,隨著台積電克服材料、技術上問題,順利將扇出型晶圓級封裝應用在Apple iPhone 7上,又重新證明該技術是目前迎合穿戴式裝置輕薄趨勢的最佳方案,目前也吸引不少大封測廠積極布局,期望以此搶攻上兆美元的物聯網商機。
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