精測首次加入SEMICON 力拱高端垂直探針卡
- 何致中／台北
晶圓測試探針卡、IC測試板大廠中華精測首次搶進SEMICON台灣半導體大展，將展出微機電垂直探針卡(MEMS Vertical Probe Card)，用於檢測手機應用處理器(AP)、射頻(RF)等高速、高密度之先進製程晶圓。精測表示，...
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