新思科技TetraMAX II大幅縮短測試型樣生成時間

新思科技推出新一代ATPG解決方案TetraMAX II，採用了去年於國際測試會議(International Test Conference)上發表的創新測試引擎，而藉由將執行時間的速度提升一個量級(an order of magnitude)。

TetraMAX II能讓ATPG執行時間從數日縮短至數小時，當先期矽晶樣本(early silicon sample)準備進行測試時，TetraMAX II能確保型樣就緒，此外，還可減少型樣達25%，讓IC設計團隊能縮短時程並降低測試矽晶的成本，或是根據諸如汽車產業等特殊市場的需求，在不影響測試成本的情況下提升品質。重複使用經生產驗證(production-proven)的ATPG介面，可確保在IC設計及測試流程中達成簡單且零風險的佈署。

TetraMAX II是以新的測試生成(test generation)、故障模擬(fault simulation)及診斷引擎(diagnosis engines)為基礎所設計，這些引擎運作極其快速，並具備超高記憶體效率且針對型樣生成優化所設計，它還可以有效執行ATPG及診斷流程的細質執行緒(fine-grained multithreading)。這些創新能大幅減少測試型樣，並將ATPG時間從數天縮短至數小時。

不論設計尺寸為何，TetraMAX II的記憶體效率能讓伺服器核心發揮作用，效能超越先前受限於高記憶體使用量的解決方案。重複使用經生產驗證(production-proven)的設計建模、規則檢查基礎以及使用者和工具介面，讓設計人員無須擔負風險便能快速地在複雜的設計中佈署TetraMAX II。

此外，TetraMAX II與DFTMAX解決方案、PrimeTime時序分析(timing analysis)和StarRC萃取(extraction)等Galaxy Design Platform工具相連，以及使用其他諸如Yield Explorer良率管理(yield management)及Verdi除錯等新思工具，提供最高品質測試以及最快速、最具生產力的流程。

新思科技執行副總裁暨設計事業群總經理Antun Domic表示，設計人員仰賴新思科技的合成(synthesis-based)測試解決方案，來達成其設計的最佳測試品質。TetraMAX II印證了新思科技對客戶的承諾，即不斷提供創新且具開創性的測試技術，因應客戶對快速ATPG及診斷(diagnostics)的需求，同時縮短矽晶測試時間。