致茂推出全方位SoC/Analog測試系統

致茂電子推出全新產品Chroma 3680全方位／高精度／高效能SoC測試系統，擁有最高可達1Gbps的資料速率(data rate)、平行測試更多待測物的能力及符合數位及類比IC的測試應用需求，提供最佳的測試系統給IC設計公司、整合元件製造公司IDM(Integrated Device Manufacturers)及半導體封裝測試服務公司OSAT(Out-Sourced Assembly and Test)。

Chroma 3680全方位／高精度／高效能SoC測試系統，除了數位訊號之外並提供了類比及混合訊號的單板選項可供測試，例如：HDADDA2單板選項給數位類比轉換DAC或類比數位轉換ADC測試使用，HDVI單板選項供車用的高電壓應用使用還有HDAVO單板選項結合了高取樣率和高位元解析度有400MSPS的任意波形產生器及250MSPS的數位信號量化器。應用範圍包含微控制器(MCU)、數位音訊(Digital Audio)、數位電視(Digital TV；DTV)、機頂盒(Set-Top Box)、數位信號處理器(DSP)、網路處理器(Network Processor)、現場可程式邏輯門陣列(Field Programmable Gate Array；FPGA)及消費性電子IC應用市場等測試方案。除硬體測試，Chroma半導體測試解決方案亦提供豐富的軟體套件以符合不同測試應用。

Chroma半導體測試設備可整合ADIVIC MP5800射頻(RF)ATE測試專用機，涵蓋6GHz測試範圍，提供4/8RF Port及120MHz頻寬。應用範圍包含WiFi/BT/GPS…等IoT應用及RF元件測試(PA/LNA/Converter)，達到RF/Digital全方位ATE(CP/FT/SLT)測試解決方案。