致茂電子參與台北國際電子產業科技展 展出最新測試解決方案

TAITRONICS 2023 台北國際電子產業科技展(10月25至27日)，致茂電子將於南港展覽館一館1F(攤位號: J1127)，展出多元的測試解決方案。

Chroma 11090-030 射頻LCR 錶為一提供貼片電感及射頻濾波器等被動元件高頻量測評估解決方案。其高達300MHz的測試頻率，對於POL或一 般小型DC-DC Converter之電感元件，不僅滿足日益增高的標稱頻率測試外，更可滿足需要於超高頻檢測才能測出之品質異常。此外，同樣能滿足如EMI-Filter、Ferrite Bead等慣用的100MHz 阻抗測試需求，為市場上少數既有解決方案之外的全新選擇。

鋰電池產品的起火事故大部分發生在充電時，主因為大部分鋰離子電池所使用的負極材料，在經過反覆充放電的週期會持續膨脹造成正負極之間極距縮短，導致原本電極間因電極毛邊或金屬異物混入而使有效絕緣距離短於應有設計而容易演變為內部短路。一般常見於電池芯生產檢驗問題多為過低的乾電芯絕緣檢測電壓(<350V)，以及絕緣測試過程中未檢測因電極毛邊或金屬異物混入所造成的電氣閃絡(Flashover)。Chroma 11210 電池芯絕緣測試器以獨特的電氣閃絡檢出技術以及電壓衝擊測試(+Flash Test)可檢出鋰離子電池(乾電芯)在電解液填充前的有效絕緣距離是否足夠以及是否有異常電子漏電，提供電池芯完整的品質測試。不僅能避免潛在絕緣不良品流入終端市場，更成為電池防火安全改善的一大利器 ，進而降低鋰電池產品的起火風險。

功率元件(IGBT & SiC-MOSFET)被應用於各種領域且經常被使用於高功率/大電流的電源轉換/控制線路、隔離元件(光耦合器&數位隔離器)被應用於各種需要隔離電壓的環境，這些元件上會出現較高的跨壓或壓差，因此確保元件在正常的工作條件下維持良好的耐壓絕緣及無連續性局部放電導致絕緣劣化至關重要。Chroma 19501系列局部放電測試器符合法規IEC 60270-1對局部放電(Partial Discharge, PD)量測的要求，並將法規之測試方法設計於儀器內，可提供AC耐壓測試(Max. 10kVac)及局部放電量測(Max. 6,000pC)，能有效地為功率元件及隔離元件等長期工作的品質與可靠性做把關。

我們誠摯的邀請您一同體驗量測新趨勢，期待在此年度盛會中與您見面。