R&S總裁強調 LTE終端認證測試不容忽視

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羅德史瓦茲 (Rohde & Schwarz, R&S)總裁兼首席營運長Christian Leicherk ，在西班牙巴塞隆納2009年世界行動大會(Mobile World Congress 2009)期間，參與由中國移動(China Mobile)、沃達豐(Vodafone)與Verizon Wireless所主辦的「全球LTE產業高峰會」，為量測儀器設備廠商唯一代表，Mr.Christian Leicher 就「LTE FDD 和 TDD(TD-LTE) 終端認證及測試解決方案」發表公開演說，分享終端認證測試GSM/WCDMA在營運過程中的成功經驗，並強調終端認證測試將成為LTE未來成功發展的重要依據，此外，說明身為各標準組織3GPP、LSTI、NGMN Alliance、GCF會員的 R&S 在LTE國際標準化中所做出的貢獻與努力，最終介紹 R&S LTE 彈性、精準與快速的量測解決方案，以及對於LTE技術相關產品規劃藍圖。

全球超過200家LTE相關供應商參與本次高峰會，並藉本次活動展現全球最大電信營運商在LTE發展方針以及LTE FDD、TDD單晶片終端願景，並指出LTE產業發展關鍵在於上下游廠商相互合作，R＆S表示，透過此次高峰會盛況，對LTE未來發展深具信心。