SMART Modular 世邁科技推出搭載SEU 緩解技術SSD固態硬碟系列
SMART Modular 世邁科技(SMART)推出獨家SEU緩解技術,用來減輕單粒子翻轉 (Single-Event-Upset)對高可靠性快閃記憶體系統造成的損害性影響。SMART 的 MP3000 NVMe SSD 採用SEU 緩解技術,將每百萬單位的年故障率從高達 17,500 次降至不到 10 次,從而大幅減少數十萬美元的潛在維護成本,並幫助確保數百小時的不間斷運行時間,對於難以維修的遠端部署極具效益。
SMART Modular世邁科技Specialty Memory副總裁Satya Iyer表示,「我們符合業界標準的SATA和PCIe NVMe開機碟能從單粒子翻轉導致的軟錯誤中恢復,將年故障率降低高達 99.7%。對於部署在偏遠及難以提供維修服務地點的網通和電信設備來說,SEU緩解技術提供從軟錯誤中恢復的能力,對於要求24/7全天候不間斷運行的系統至關重要 。」
SEU是數位系統中的「位元狀態」無意間發生的變化,指的是當高能中子或α粒子隨機撞擊導致記憶體位元(邏輯元件)翻轉原本狀態的現象。這些高能粒子可能來自地面或大氣層外的來源,例如宇宙射線。SEU 會導致數位系統運行異常,甚至會造成整個系統崩潰。因此,若能直接透過SSD解決這些錯誤或異常,無需重啟系統即可恢復運作,這對於維持系統運行的可靠性和持續性將發揮關鍵作用。
SEU緩解技術比其他單靠ECC錯誤校正技術修復內部SRAM的解決方案更有效,讓SSD不僅能在無需重啟主機的情況下輕鬆進行自身重啟,還能處理內部其他元件潛在的位元翻轉現象,額外減少10%故障的發生。SMART搭載SEU緩解技術的開機碟專為要求最長運行時間的應用而設計,提供60GB至1.92TB儲存容量,以及商規和工業寬溫規格。
ME2 SATA M.2 和mSATA SSD 採用 SEU 緩解技術,提供 60GB 至 1.92TB 的儲存容量,支援商規(0°C 至 70°C)和工規寬溫(-40°C 至 85°C)操作溫度。M.2 2280 更搭載SafeDATA斷電資料保護技術。
MP3000 NVMe PCIe SSD採用SEU緩解技術,提供M.2 2280、M.2 22110和E1.S外形規格, 以及80GB 至1.92TB的儲存容量,支援商規(0°C 至 70°C)和工規寬溫(-40°C~85°C)操作溫度,同時也搭載SafeDATA斷電資料保護技術。欲瞭解更多產品資料,請上SMART官網查詢。