3D小晶片、第三類半導體掀RD拉力賽 台系檢測分析、測試介面精銳盡出
- 何致中／台北
摩爾定律走入嶄新世代，「異質整合」將帶動先進封測技術扮演更重要關鍵，當中不管是同質/異質封裝、系統級測試(SLT)，甚至是先進技術的材料分析(MA)、可靠度分析(RA)、故障分析(FA)等，台系半導體供應鏈將以群聚效應帶來最大的效益。
新...
會員登入
會員服務申請/試用
申請專線：
+886-02-87125398。
(週一至週五工作日9:00~18:00)
+886-02-87125398。
(週一至週五工作日9:00~18:00)
關鍵字
