愛德萬測試參加舊金山SEMICON West

半導體測試設備領導供應商愛德萬測試(Advantest Corporation)將參與7月10日至12日在舊金山Moscone會議中心舉辦的2018年SEMICON West半導體設備展，屆時在展場、技術研討會與課程活動皆可見到愛德萬測試人員積極投入的身影。愛德萬測試全球行銷傳播副總裁Judy Davies表示：「愛德萬測試除了展示針對廣泛應用的最新IC測試解決方案，也將發表兩篇技術論文並參與在SEMICON West期間舉辦的首屆High Tech U活動。」

愛德萬測試將於南廳(South Hall)1105號攤位展示最新FVI16的VI浮動電源供給模組，可提供V93000單一可擴充平台業界最高的VI訊號效能。FVI16模組能提供250W的高脈衝功率以及最高40W的直流電功率，能使V93000系統在更高電壓、更多通道數與更大電力需求下，測試高腳位數IC，開創電源管理應用的新市場機會。

現場也將展出支援廣泛用於行動電子裝置與伺服器DDR5與LPDDR5記憶體的T5503HS2 測試機台。用戶可選擇購買新系統或選擇升級現有T5503測試機，此次的測試解決方案可測試資料傳輸速度高達8 Gbps 的記憶體，足以處理今日最先進雙倍資料速率SDRAM半導體的最高工作頻率。此解決方案最高可平行測試512個DDR5裝置，以更低測試成本達到更高產出。

此外，愛德萬測試將展示T2000整合式電源管理元件測試解決方案(IPS)以及兩款最新模組。新推出的兩款模組可測試應用於混合動力／電動車市場的類比IC，且可測量最高300V的電壓，誤差不超過100uV。由於模組資源可以相互疊加組合，故客戶可按不同效能需求調整測試機台的功能與產能，而這樣的彈性也確保T2000 IPS測試機台經得起長久使用。

其他展出的測試解決方案包含針對類比、數位與混合訊號裝置量產環境測試而設的EVA100量測系統，以及體積小巧的M4171 分類機，用戶可隨時隨地透過網路遠端操作此款機台，有助提升實驗室效率。不僅如此，攤位展示區將播放影片呈現愛德萬測試Wave Scale系列的測試解決方案、MPT3000 平台針對SATA、SAS與PCIe固態硬碟(SSD)的系統級測試能力，以及先進物聯網(IoT)測試解決方案。

愛德萬測試除了展示產品，也將積極參與在SEMICON West期間舉辦的SEMI技術研討會與Test Vision 2020論壇。愛德萬測試業務發展總監Derek Floyd擔任Vision 2020計畫主持人，並將以愛德萬測試專家身分在為期兩天的活動於北廳(North Hall)20號會議室發表兩篇技術論文。在7月11日(三)上午11點25分，愛德萬測試ADS事業群系統規劃資深總監Kotaro Hasegawa將發表題為「為自駕車而設的車用IC測試」演說，並將於7月12日(四)下午3點10分發表題為「28-GHz 5G RF測試體驗」的論文。

愛德萬展望未來，將共同贊助於SEMICON West期間舉辦的首屆SEMI High Tech U活動，該活動將於7月10日至12日協助15~17歲的高中生更了解半導體產業、探索職涯可能性以及參觀部分參展廠商攤位，近距離接觸半導體產業。愛德萬測試人員將參與該活動的3個項目，包含講授愛德萬測試與KLA-Tencor共同規劃的人工智慧(AI)與IoT課程內容、安排學生練習面試以及主持最後一天課程，歡迎追蹤愛德萬測試推特帳號@Advantest_ATE。