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車用電子應用功率測試挑戰與解決方案

圖1:車用電子元件測試挑戰一覽表。
圖1:車用電子元件測試挑戰一覽表。

全球化趨勢讓汽車和汽車零件產業競爭壓力加劇,在不犧牲節能效率、安全性和可靠性的前提下,必須以更低的成本開發更多元的汽車功能。以下將描述必要的元件級測試的關鍵因素,並說明是德科技最新解決方案以協助業者克服這些挑戰。

車用電子元件測試挑戰

圖2:是德科技車用電子元件測試解決方案。

圖2:是德科技車用電子元件測試解決方案。

圖1總結針對汽車應用執行元件級測試時的主要考量因素,為了達成這些目標,汽車電氣工程師必須測試各種元件參數,例如導通電阻(RON)、飽和電壓(VSAT)、崩潰(BVDSS),以及輸入?輸出電容(Ciss、Coss)。此外,這些測試需在實際操作條件下(例如400 A或1,200 V)以及寬廣的溫度範圍內進行。如欲極致降低功率損耗,必須透徹了解各項參數,例如Crss、閘極電荷(Qg)和閘極電阻(RG)。

驗證汽車感應器(特別是電容MEMS感應器)的效能也極為重要,而直流測試(IV和CV)是執行此流程的第一步。除了技術考量之外,汽車工程師也必須採用新技術(例如SiC和GaN)以便降低成本。另一方面,為避免數據不實或不合格之功率元件以確保高品質,汽車廠亦有必要先執行嚴格的篩選。

是德科技各式元件測試解決方案

圖2為是德科技所提供的元件級測試解決方案。B1506A功率元件分析儀是完整的電路設計解決方案,可協助汽車電子電路設計工程師全面增進車用電子系統的效率、安全性和可靠性。它可在各種不同的操作條件下評估所有相關裝置和元件的參數,包括IV參數,例如崩潰電壓和導通電阻,以及三端FET電容、閘極 電阻、閘極電荷和功率損耗。

B1506A功率元件分析儀  適用於電路設計

B1506A支援寬廣的電流和電壓範圍,從sub-nA至1500 A,以及從微伏至3 kV,以便評估汽車電子電路中使用的絕大多數裝置和元件。它可提供易於使用和精確的自動化溫度相依量測功能,於-50°C至+250°C的寬廣溫度範圍內進行量測。目前有兩種解決方案可供選擇,其一為支援產業標準的inTEST Thermostream溫度系統,而另一種則是B1506A測試夾具內的熱敏板(同樣是inTEST所提供),利用這些解決方案,過去要花一整天才能完成的熱溫測試,現在不到一小時就完成了。

提升電路效能和效率一直是個重要課題,特別是當切換頻率導致切換損耗增加,而開始左右元件的功率損耗時,您必須全面地評估元件電容、閘極電阻和閘極電荷的特性。然而,由於這些參數非常難以量測,很多汽車工程師完全不想嘗試。B1506A不僅可自動量測所有這些參數,同時還可使用所擷取的參數來進行功率損耗的計算,讓這個棘手的問題迎刃而解。

B1507A功率元件電容分析儀

如果您的舊型曲線追蹤或功率元件測試儀具有直流特性分析功能,但欠缺電容量測功能,Keysight B1507A可補充缺少的這項測試資源。它可在高達3 kV的高電壓偏壓下,提供自動電晶體輸入、輸出和反向傳輸電容量測能力,並且具備閘極電阻量測能力。

B1505A功率元件分析儀?曲線追蹤儀

Keysight B1505A可取代B1506A,具有更靈活的特性、更寬的電流與電壓範圍、更出色的低電流量測準確度、高電壓與中電流(如500 mA、1.2 kV)量測功能、GaN電流崩塌測試選項,並且可以同時對3個以上的針腳進行量測。此外,B1505A可量測晶圓上和封裝元件。

除了廣為功率元件製造商所採用外,B1505A是使用GaN功率元件的車用電子工程師之得力助手,可協助他們量測4端IGBT的感應發射極電流,並評估HVIC閘極驅動電路。

Keysight示波器與脈衝產生器

切換特性是元件級測試的重要環節,Keysight InfiniiVision 4000 X系列示波器以合理的成本提供充足的頻寬和解析度,如有需要可搭配使用電流探棒。而81110A脈衝產生器還提供快速且充足的電壓脈衝,以便分析汽車元件的特性。

感應器量測解決方案

使用Keysight B1500A和B2900A SMU輕鬆量測DC MEMS效能SMU可同時供應電源並量測電流和電壓,是量測汽車感應器之IV效能的便利工具。例如無論是B1500A和B2900A系列都配備SMU,可對MEMS元件(例如加速計)進行直流電流與電壓特性分析。手動將MEMS元件旋轉360度後,SMU可量測輸出電壓。

使用E4980A LCR錶評估MEMS元件

MEMS電容感應器(例如壓力感應器或加速計)可偵測電容值以便檢查是否有出現機械位移。測試這些元件的功能性時,經常使用靜電力(而非實際的激發)來提升測試效率。然而由於致動器的電容變化非常小,工程師必須使用具有毫微微法拉(sub-femto farad)解析度的測試設備來量測電容。Keysight E4980A具有attofarad重複性(σ<1 FF),是量測電容的理想工具。 (本文由是德科技提供,李佳玲整理)