台北國際光電週重要研討會即將在南港展館登場 致茂電子訂15日舉辦「先進LED測試技術應用研討會」

LED由於具備輕巧、環保、耐用、高亮度等多種優異的特性，成為節能趨勢下，最佳新一代照明選擇。而在持續擴大的市場需求下，致茂電子所生產的全系列LED測試解決方案不僅提供製造商精準的檢測數據，也能有效降低製造成本、提高市場競爭力。

針對LED特性，致茂研發一系列LED測試應用的完整產品線，將在本屆光電週展覽中盛大展出。為讓與會來賓對於致茂所提供的測試技術有更深入的了解，訂6月15日下午1點在世貿南港展覽館舉辦「先進LED測試技術應用研討會」，探討LM79/80 LED 照明法規簡介及相關測試技術、光學檢測設備之發展與白光干涉技術之應用，以及全方位的LED電源測試解決方案。

會中將介紹IES LM-79國際固態照明(SSL)的標準量測方法以及LM-80 LED光源之光維持率的量測方法。而光學及色彩量測設備的發展必須能跟上顯示技術及光源發展的腳步。色彩量測技術由濾鏡式、分光式，發展到2D CCD式，CCD式就如同人的眼睛，故能由色彩量測的應用拓展到光學量測的應用，會中也將介紹2D CCD式的發展與應用。

有鑑於各式精密光機電元件與半導體製程，皆持續往微小化發展，產業界對於量產化之微奈米三維形貌量測設備，其需求也日漸殷切。本研討會中，將對白光干涉儀於微奈米三維形貌量測之基本原理、核心技術及市場應用，做詳細之介紹與說明，並針對致茂本次傑出光電獎得獎產品7503三維光學輪廓儀之核心技術特點與客制化應用特色，進行深入的探討。

此外，省電的LED照明是當前火紅的節能產品，但是LED驅動電源的使用壽命卻是業界的共同困擾。致茂電子將以20多年電源測試的專業，幫助業界驗證所設計的 LED 電源，確保所開發的LED電源產品可以應付市電變動的衝擊，驗證匹配性來正確點亮不同的 LED，提供完整的測試方案解決所遇到的難題。以上這些精采的內容都會在本次研討會中與大家分享，活動採免費線上報名方式，座位有限，請儘早報名，報名官網：http://www.chroma.com.tw，或電洽致茂電子吳婉如小姐：03-3279999 轉3109。