ATP啟動固態硬碟開關機循環測試

ATP開關機循環測試系統(Power Cycling Test)，有效驗證ATP斷電保護技術(PowerProtector Technology)

全球DRAM及快閃記憶體儲存產品領導廠商華騰國際科技股份有限公司(ATP Electronics, Inc) 發表最新測試技術—ATP開關機循環測試系統(Power Cycling Test)，這項嶄新測試系統能有效驗證ATP斷電保護技術(PowerProtector Technology)，目前此技術用於ATP NAND快閃記憶體系列產品包括固態硬碟(SSD)、CF卡與CFast卡，並領先業界應用在極小尺寸的嵌入式記憶體模組。經由持續的開關機測試系統不斷測試下，內含ATP斷電保護技術的產品，系統不會因為不正常斷電而產生資料毀損或流失，從而保障資料安全，但沒有ATP斷電保護技術的產品，則無法通過此項測試。

在ATP開關機循環測試中，當傳送資料寫入的指令至NAND記憶區塊中時，ATP可以精準找到『資料寫入，並複製至記憶區塊』的當下，在約為幾微秒左右的瞬間來製造斷電，再與檢測主機進行資料比對。測試結果顯示，沒有ATP斷電保護技術的產品，在幾個電源開關循環後，資料比對時，即顯示『資料喪失』。這是因為無斷電保護功能的產品，在資料寫入並進入複製資料的階段中，即失去電力，故資料無法成功複製進入記憶區塊中，所以當進行資料比對時，寫入的資料就會與檢測主機中的資料不一致，也就是資料寫入『失敗(Fail) 』。相反地，一個具有ATP斷電保護技術的產品，即使經過上千次的斷電測試，也不會導致資料錯亂或數據流失，在每次的循環測試上顯示資料寫入『成功(Pass) 』。持續地測試結果顯著地驗證了ATP斷電保護技術的高可靠性和高效能。

在巨量資料時代中，資料以前所未有的數量和速度累積中，對企業及個人用戶而言，快速以及可靠的儲存產品越顯重要。ATP斷電保護功能特別適合為工作環境嚴苛的產業，例如交通運輸、電信、網路通訊和嵌入式系統等，打造穩定可靠的運作環境。不同於電源管理中的SuperCap技術，ATP斷電保護技術不需要特定的其他客製化韌體，可直接應用於硬體設計內，且只需非常精簡的電路板面積，故可以用在如CF卡、CFast卡、SlimSATA、SATA 嵌入式模組、eUSB、mSATA、PATA、CFast、SSDs等小型載具，為空間有限的設備，提供最佳資料安全輔助功能。另外由於固態電容不易受環境的溫濕度影響，更是應用於極端環境下的最佳解決方案。上述特性使得快閃記憶體儲存模組可做有效率的電源管理，除了確保存入資料的完整性，同時提高儲存效能，成功地為客戶優化資產投資效益。