3D小晶片、第三類半導體掀RD拉力賽 台系檢測分析、測試介面精銳盡出
- 何致中／台北
摩爾定律走入嶄新世代，「異質整合」將帶動先進封測技術扮演更重要關鍵，當中不管是同質/異質封裝、系統級測試(SLT)，甚至是先進技術的材料分析(MA)、可靠度分析(RA)、故障分析(FA)等，台系半導體供應鏈將以群聚效應帶來最大的效益。新...
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