NI 透過模組化儀器新套餐 擴充 PXI 於半導體測試作業的功能

NI 日前發表新的 10 款 PXI 產品，可提升 PXI 於混合式訊號半導體測試作業的功能。此透過軟體定義的新產品套餐，已為了搭配 NI LabVIEW 圖形化系統設計 (GSD) 軟體而最佳化，包含 4 組高速數位 I/O (HSDIO) 儀器、2 組數位切換器、2 組強化的 RF 儀器、1 組高精確度的電源量測單位 (SMU)，與專屬的數位向量檔案匯入軟體。新的 NI PXI 半導體套餐 (Semiconductor Suite) 整合多項新功能，包含 200 MHz 單端點數位 I/O、10 pA 電流解析度、多頻帶 (Multiband) RF 快速量測、DC/數位切換、Waveform Generation Language (WGL)，與 IEEE 1450 Standard Test Interface Language (STIL) 檔案匯入功能。

PXI 半導體套餐可持續提升 PXI 對常見半導體裝置的測試功能，如 ADC、DAC、電源管理 IC (Power-management IC，PMIC)、無線 IC，與微機電整合系統 (MEMS) 裝置。相較於半導體裝置進行特性描述、檢驗，與生產測試時，所常用的傳統箱型儀控與自動化測試設備 (ATE)，此套餐具備廣泛且高階的功能，可提供較高傳輸量、較大的彈性，並可縮短開發時間。

HSDIO 儀器的 NI PXIe-654x 系列包含 4 款新模組，可達最高 200 MHz 單端點時脈率與 400 Mbps 資料傳輸率，適於測試高速晶片設計，並進行較高速的客制化通訊協定。此系列的高階數位模組並具備多項功能，如雙向通訊、即時位元比較、雙資料流 (DDR) 功能、不同 I/O 線路的多重時序延遲，並可選擇 1.2 ~ 3.3V 共 22 個電壓準位；大幅提升數位 I/O 測試作業的彈性。這些新款數位 I/O 裝置包含 NI PXI-654x、PXI-655x，與 PXI-656x 的高速數位系列。目前共有 10 款 PXI 單端點儀器可達最高 200 MHz 的 LVDS 電壓功能。

新的 NI PXI-4132 高精確度 SMU，可達最小 10 pA 電流敏感度，適用於高解析度的電流量測作業。單一輸出即具備遠端 (4 線式) 感測與外接防護功能，並以單一 PXI 插槽提供 ±100 V 功能。SMU 亦強化了其他功能，包含可用於硬體時脈的硬體時序引擎、高速曲線追蹤功能，並可透過 PXI 背板觸發或同步化多組 PXI-4132 SMU。現有的 NI PXI-4130 Power SMU 具備 4 象限、40 W 輸出 (±20 V、±2 A) 功能，可為 PXI 系統提供高精確度與高功率的電流量測選項；而 PXI-4132 更進一步完備了相關功能。

新款 NI PXI-2515 與 NI PXIe-2515 數位切換器，更提升了 PXI 產品功能，讓工程師可直接對 HSDIO 線路所連接的受測晶片，進行精確 DC 儀控的多工作業。新款切換器亦強化了參數量測作業的訊號連結功能，並可維持高速數位邊緣的訊號完整性。

新的 NI PXIe-5663E 與 NI PXIe-5673E，為 6.6 GHz 的 RF PXI Express 向量訊號分析器與向量訊號產生器，透過稱為 RF List Mode 的新功能，可迅速且精確量測 RF 設定中的變化，以大幅縮短測試時間。並可讓工程師下載預先設定完畢的儀器參數，以加快不同 RF 設定的變換週期。若功率放大器與其他 RFIC 必須透過多個頻率以檢驗效能時，此特性將可提供多項優勢。與傳統儀器相較，此新增功能亦可協助 RF 工程師更快執行多重頻帶的 RF 量測。

當使用 NI PXI 高速數位產品時，PXI Semiconductor Suite 亦可高效率匯入 WGL 與 STIL 數位向量格式，以簡化從設計到測試的程序。NI 與 Test Systems Strategies(TSSI)公司合作所誕生的 TSSI TD-Scan for National Instruments 軟體，可讓半導體測試工程師將 WGL 與 STIL 模擬向量匯入至 PXI 系統中；而在此之前，必須開發客制化軟體才能進行匯入作業。