安立知助力村田製作所開發USB 3.2雜訊抑制解決方案
Anritsu安立知很榮幸地宣佈,村田製作所(Murata Manufacturing Co., Ltd.)使用Anritsu安立知的頻譜分析儀,成功解析了USB 3.2通訊過程中導致雜訊產生的機制。
USB 3.2 通訊過程中所產生的高頻雜訊會導致無線區域網路(WLAN)和Bluetooth無線通訊裝置的通訊速度降低、通訊品質下降等主要問題。
村田Murata建立了符合USB-IF標準組織USB 3.2 RFI系統級測試的電磁雜訊測試環境,並於該環境中使用Anritsu安立知的頻譜分析儀/訊號分析儀MS2830A,釐清了導致雜訊產生的機制。
Anritsu安立知致力於建立雜訊抑制解決方案,其結合了村田Murata在雜訊控制方面的專業技術和共模扼流線圈,可在保持訊號完整性的同時有效抑制雜訊。
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