品勛與是德共同舉辦元件電路分析技術研討會

10/13台南沙崙綠能科技示範場域舉辦「元件電路分析與測試技術研討會」。品勛科技

台南訊

品勛科技與是德科技將於10月13日在台南沙崙綠能科技示範場域舉辦「元件電路分析與測試技術研討會」，將與業界的專家和學者攜手，共同探討如何在半導體設計中運用嶄新的解決方案來優化元件的性能和耐用性。

在快速變遷的科技領域中，高效能半導體元件的設計和測試是追求創新和可靠性的關鍵。無論是探索微機電感測晶片，還是解決低功率IC的設計挑戰，都需要深入分析元件的特性以及實際應用情境。為了解決這些多層面的問題，我們必須依賴先進的測試技術和解決方案。

特別邀請到南台科大邱裕中特聘教授擔任講師，分享在氮化鎵（GaN）高電子遷移率電晶體（HEMTs）領域的專業見解，從元件的設計到測試，從性能評估到材料選擇，從理論到實際應用，涵蓋廣泛的議題，以期幫助參與者更好的應對面臨的技術挑戰。

也邀請到宏汭精測林明正總經理分享如何利用先進的測試技術來確保在元件實際操作狀態下的穩定性和效能。透過實際案例分析和最新技術分享，協助您更有效應對不斷複雜的元件測試需求。本研討會將與業界的專家和學者攜手，共同探討如何在半導體設計中運用嶄新的解決方案來優化元件的性能和耐用性。立刻報名