安立知Field Master x Y.I.C EMI解決方案
- 孫昌華／台北
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Anritsu安立知與Y.I.C. Technologies合作開發創新工具，支援業界廠商預先執行電磁相容性（EMC）測量。Anritsu安立知的新型Field Master頻譜分析儀具有一流的掃描速度和連接介面，能與Y.I.C EMScanners和 EMViewer應用軟體相輔相成，提供完全整合的解決方案。
開發先進電子產品的設計工程師面臨著許多來自高速數據電路和射頻（RF）元件的EMC挑戰。高效的設計流程需要儘早瞭解電路的EMC性能。Y.I.C的掃描儀和EMViewer軟體搭配Anritsu安立知的頻譜分析儀，可提供所有輻射訊號的獨特三維(3D)熱圖；在提交產品給認證測試機構之前，可以先對電路佈局和屏蔽材料進行最佳化，從而最大限度地提高首次通過的機率，減少重複提交。
Y.I.C. Technologies全球業務與通路經理Cornelle Roberts說：「我們的工作熱情在於幫助工程師縮短排除 EMC挑戰的時間。我們的解決方案現可相容於Anritsu安立知Field Master頻譜分析儀，透過與Anritsu安立知相容的解決方案，我們共同提供了一種獨特的方式來審視您的設計，並讓您有機會在近場修復所有問題，這將確保在電波暗室中一次性通過測試。我們對此次合作感到非常興奮，期待迎接所有Anritsu安立知用戶加入我們的EMC大家庭。 」
EMC測試是產品開發中日益重要的一部分，尤其是在航太、國防和醫療電子市場。高效的產品開發需要專業的設計工具，Anritsu安立知很高興能與Y.I.C Technologies合作，為這一市場提供高效的解決方案。
Anritsu安立知頻譜分析儀產品經理Angus Robinson說：「Anritsu安立知很榮幸能與Y.I.C Technologies合作，幫助他們將創新解決方案推向市場。EMC測試是測試產業市場日益重要的一部分，而EMScanner 和EMViewer產品為我們共同的客戶提供了前所未有的深度見解和速度。」
