陸得斯將於SEMICON展出晶圓缺陷檢測機台
- 林仁鈞／台北
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美商陸得斯於2015 SEMICON TAIWAN展出(攤位號碼：L400)。
美商陸得斯科技將於9月2日至4日參加2015 SEMICON TAIWAN，展出晶圓缺陷檢測機台「NSX系列」，現場Live demo晶圓缺陷檢測機台，並有專人現場解說。
另提供先進封裝製程黃光曝光機(Lithography Stepper)、高性能晶圓膜厚量測機台(Metrology Tool)、探針檢測設備(Probe Card Tester)及資料分析與製程控制軟體的相關資訊。
美商陸得斯科技(Rudolph Technologies, Inc)將於南港展覽館4樓(攤位號碼：L400)，歡迎您蒞臨攤位。
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