緯利公司代理Hitachi新一代高性能膜厚儀FT150系列

緯利公司代理Hitachi新一代高性能膜厚儀FT150系列－深獲PCB、IC載板及IC封裝客戶的廣泛採用。

日立高新科學公司(Hitachi)，自1978年起生產第一代專門量測微小零件的螢光X射線膜厚儀SFT155，迄今已超過30年以上的歷史。此期間提供給全球客戶膜厚量測上的技術支援而深受信賴，而「FT」二字也成為此一類型膜厚儀的代稱，廣為業界人士所使用。

隨著更輕薄科技產品的出現，相關零組件也趨向微型化，零件表面膜厚量測成為新製程管控重要的課題。新一代的螢光X-RAY膜厚儀－FT150系列，能提供超微小物件的量測及更好的量測精度表現。

FT150利用新開發的X-Ray毛細管(Polycapillary)及檢測器，配合硬體的最佳化，大幅提升檢測靈敏度、精度及高效率的處理能力。此外，參考前一代FT95系列的客戶操作使用經驗，新的樣品室設計，讓使用者進行檢驗工作時更為簡便。

值得一提的是，新一代的FT150特點包含針對顯微領域的高精度測量、產品陣容涵蓋產業更廣、操作便利及安全性兼顧、大型的觀察窗設計、高解析度的樣品影像及友善的操作介面。

在對顯微領域的量測時提供了更高的精度，因採用新開發的X-Ray毛細管(Polycapillary)並搭配優化的檢測器，在進行同樣微小物件的量測時，FT150的處理能力是前一代機型的兩倍以上。

產品陣容涵蓋了大多數產業的產品，特別是FT150、FT150L及FT150H三種型號滿足客戶的需求。此外，增加了樣品室門開啟的角度，單手即可輕鬆開關，提高了放入及取出樣品的方便性。

安全性方面，密閉結構的設計，可以讓操作者安心消除輻射泄漏的疑慮。樣品門配置了大型的觀察窗及硬體結構設計上改良，讓使用者能在樣品室關閉的情形下，還可容易的觀察檢測部位。而高畫素攝影鏡頭及全數位變焦，可以清楚的看見數十微米的微小樣品。更重要的是，新的的操作介面讓使用者可自訂每個應用圖面，利用樣品照片或是簡易圖示，直覺操控達到快速檢測的目的。

Hitachi FT150將引領膜厚量測進入新的階段。誠摯的邀請各位先進於10月26至28日，歡迎蒞臨TPCA攤位I908參觀。更多關於FT150產品詳情請洽緯利官網查詢，連絡電話(03)656-0883。